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多種顯示方式:RF射頻波形顯示、A掃描正/負(fù)檢波顯示、B掃描顯示和厚度值大數(shù)字顯示 A掃描正/負(fù)檢波顯示用于測(cè)厚、探傷和腐蝕坑檢測(cè)
B掃描顯示用于顯示被測(cè)材料的截面形狀
顯示分辨率可調(diào)
可使用多種單晶探頭(標(biāo)準(zhǔn)延遲塊探頭、筆式延遲塊探頭和接觸式探頭)