RHESCA薄膜附著強度測試儀CSR-2000簡單介紹 基于JIS R-3255標準，以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的薄膜附著強度測試儀。為成膜研究與測試所的測試設備。