ACS集成測試系統(tǒng)，實現(xiàn)基于實驗室的自動化操作

產品開發(fā)周期和測試成本壓力不斷提高，意味著測試工程師必須用更少的投入做更多的工作。通過采用吉時利經過驗證的儀器和測量功能，ACS綜合測試系統(tǒng)添補了基于交互式實驗室的工具與高吞吐量生產測試工具之間的重要空白。 應用指南 08 Aug 2016

探測集成電路觸點級晶體管

Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)

使用Mode 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)在高阻抗器件上執(zhí)行低頻電容-電壓測量

使用晶圓圖參數(shù)選項及Cascade Nucleus探頭軟件和Model 4200-SCS

使用低噪聲Model 4200-SCS進行低電流測量

使用Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)分析MOS電容器的C-V特點

使用Model 4200-CVU-PWR C-V功率分析軟件包及Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)進行高電壓和高電流C-V測量

適用于Model 4200-SCS：分析NVM特性，測量VLF C-V，同時進行更多的脈沖式或快速I-V測量

使用Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)進行太陽能/光伏電池I-V和C-V測量

使用吉時利Model 4200-SCS監(jiān)測MOSFET器件的通道熱載波(CHC)劣化

使用Model 4200-SCS和Zyvex S100納米操縱裝置進行納米線和納米管I-V測量

使用Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)優(yōu)化低電流測量

使用Model 4200分析柵極介電電容-電壓特性

使用4200-CVU電容-電壓單元測量電感

改善Model 4200-SCS的測試速度和整體測試時間

使用Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)和Series 3400脈沖/碼型發(fā)生器進行電荷泵測量

使用Model 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)執(zhí)行電荷泵測量

修改吉時利互鎖電纜236-ILC-3，用于Cascade 12000系列半自動探頭

利用4200-SCS型參數(shù)分析儀，對碳納米管晶體管(CNT FET)進行電氣特性分析